Applied logistic regression
Por: Hosmer, David W.
Colaborador(es): Lemeshow, Stanley.
Tipo de material:
LibroSeries Wiley series in probability and mathematical statistics.Editor: New York: John Wiley & sons, 1989Edición: 1a. ed.-.Descripción: 307p.; 24cm.Signatura: B.02.04.01 H827a.ISBN: 0471615536.Materia(s): REGRESION [PSICOMETRIA]
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